|
|
Przedmiot „Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej” jest przedmiotem obieralnym adresowanym dla studentów Wydziału Inżynierii Materiałowej i Ceramik AGH studiów niestacjonarnych I stopnia kierunków „Technologia chemiczna” oraz „Inżynieria Materiałowa”. Przedmiot jest prowadzony w formie seminarium i obejmuje 6 trzygodzinnych spotkań (135 minut z 15 -minutową przerwą). Celem przedmiotu jest zapoznanie z aparaturą, metodami i technikami rentgenowskiej analizy fazowej, nabycie umiejętności planowania pomiarów oraz wykorzystania dostępnego oprogramowania do analizy i interpretacji danych pomiarowych. Proponowana literatura: 1. Chojnacki J.: Rentgenografia metali. PWN, Kraków 1958 2. Bojarski Z., Łągiewka E.: Rentgenowska analiza strukturalna. PWN, Warszawa 1988 3. Trzaska Durski Z., Trzaska Durska H.: Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej. PWN, Warszawa 1994 4. Bolewski A., Żabiński W.(red): Metody badań minerałów i skał. Wyd. Geologiczne, Warszawa 1988 5. Handke M., Rokita M., Adamczyk A.: Krystalografia i krystalochemia dla ceramików. AGH UWND Kraków 2008 |