Ogólne informacje o przedmiocie


Przedmiot „Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej” jest adresowany dla studentów Wydziału Inżynierii Materiałowej i Ceramik AGH studiów stacjonarnych II stopnia kierunku „Technologia chemiczna” specjalność „Analityka i kontrola jakości”. Obejmuje łącznie 56 godzin; wykład – 28, seminaria – 28, 6 punktów ECTS.

Celem przedmiotu jest zapoznanie z aparaturą, metodami i technikami rentgenowskiej analizy fazowej, nabycie umiejętności planowania pomiarów oraz wykorzystania dostępnego oprogramowania do analizy i interpretacji danych pomiarowych.

Proponowana literatura:
1. Chojnacki J.: Rentgenografia metali. PWN, Kraków 1958
2. Bojarski Z., Łągiewka E.: Rentgenowska analiza strukturalna. PWN, Warszawa 1988
3. Trzaska Durski Z., Trzaska Durska H.: Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej. PWN, Warszawa 1994
4. Bolewski A., Żabiński W.(red): Metody badań minerałów i skał. Wyd. Geologiczne, Warszawa 1988
5. Handke M., Rokita M., Adamczyk A.: Krystalografia i krystalochemia dla ceramików. AGH UWND Kraków 2008