|
|
1. Sieć przestrzenna i krystaliczna, komórka elementarna, płaszczyzny sieciowe. Wskaźniki (hkl) w komórce elementarnej i w rzucie na płaszczyznę XY, YZ, XZ. Odległości międzypłaszczyznowe – ilustracja i obliczenia dla poszczególnych układów krystalograficznych. 2. Zadania z wykorzystaniem wzoru Braggów – Wulfa i równań kwadratowych, rząd refleksu, wybór lampy, zależność błędu pomiarowego od kąta ugięcia, eliminacja linii Kα. 3. Aparatura i parametry pomiarowe. Programowanie pomiarów XRD. Zakres pomiarowy, krok i czas zliczeń. Czas całkowity pomiaru (dla licznika scyntylacyjnego i paskowego). Analiza fazowa jakościowa – pokaz. 4. Współczesna aparatura w dyfraktometrii proszkowej i jej odmianach (XRD z MRI, GID, XRR, SAXS/WAXS) oraz spektroskopii fluorescencji rentgenowskiej – pracownia wydziałowa WIMiC. 5. Analiza fazowa jakościowa; podstawy, wykorzystanie oprogramowania w analizie fazowej jakościowej. 6. Bazy danych rentgenowskich. Gęstość rentgenowska - obliczenia. 7. Wskaźnikowanie rentgenogramów (metoda ilorazów) i wyznaczanie parametrów sieciowych. Wskaźnikowanie – metoda różnic i ilorazów; wyznaczanie parametrów sieciowych. Reguły wygaszeń systematycznych. 8. „Rozwiązywanie” struktur krystalicznych. 9. Rentgenowska analiza fazowa ilościowa – metody eksperymentalne, w tym metoda wzorca wewnętrznego. 10.Metoda Rietvelda. 11.Identyfikacja roztworów stałych na podstawie pomiarów XRD. 12. – 13.Zastosowanie metody XRD - referaty studentów. 14. Wykorzystanie baz danych. Reguły wygaszeń pasowych i seryjnych. Zajęcia zaliczeniowe. |